在本電源設(shè)計(jì)小貼士中,我們將研究一種估算熱插拔MOSFET溫升的簡(jiǎn)單方法。熱插拔電路用于將電容輸入設(shè)備插入通電的電壓總線時(shí)限制浪涌電流。這樣做的目的是防止總線電壓下降以及連接設(shè)備運(yùn)行中斷。通過使用一個(gè)串聯(lián)組件逐漸延長(zhǎng)新連接電容負(fù)載的充電時(shí)間,熱插拔器件可以完成這項(xiàng)工作。結(jié)果,該串聯(lián)組件具有巨大的損耗,并在充電事件發(fā)生期間產(chǎn)生溫升。大多數(shù)熱插拔設(shè)備的制造廠商都建議您查閱安全工作區(qū)域(SOA)曲線,以便設(shè)備免受過應(yīng)力損害。圖1所示SOA曲線顯示了可接受能量區(qū)域和設(shè)備功耗,其一般為一個(gè)非常保守的估計(jì)。MOSFET的主要憂慮是其結(jié)溫不應(yīng)超出最大額定值。該曲線以圖形的形式向您表明,由于設(shè)備散熱電容的存在它可以處理短暫的高功耗。這樣可以幫助您開發(fā)一個(gè)精確的散熱模型,以進(jìn)行更加保守、現(xiàn)實(shí)的估算。
![一種估算熱插拔MOSFET溫升的簡(jiǎn)單方法(電子工程專輯)](http://www.eet-china.com/STATIC/ARTICLE_IMAGES/201101/eetc_0113_nt_pic1.JPG)
圖1:MOSFET SOA曲線表明了允許能耗的起始點(diǎn)。
在《電源設(shè)計(jì)小貼士9》中,我們討論了一種電氣等效電路,用于估算系統(tǒng)的散熱性能。我們提出在散熱與電流、溫度與電壓以及散熱與電阻之間均存在模擬電路。在本設(shè)計(jì)小貼士中,我們將增加散熱與電容之間的模擬電路。如果將熱量加到大量的材料之中,其溫升可以根據(jù)能量(Q)、質(zhì)量(m)和比熱(c)計(jì)算得到,即:
表1列出了一些常見材料及其比熱和密度,其或許有助于建模熱插拔器件內(nèi)部的散熱電容。
![一種估算熱插拔MOSFET溫升的簡(jiǎn)單方法(電子工程專輯)](http://www.eet-china.com/STATIC/ARTICLE_IMAGES/201101/eetc_0113_nt_pic3.JPG)
表1:常見材料的物理屬性。
只需通過估算您建模的各種系統(tǒng)組件的物理尺寸,便可得到散熱電容。散熱能力等于組件體積、密度和比熱的乘積。這樣便可以使用圖2所示的模型結(jié)構(gòu)。
該模型以左上角一個(gè)電流源作為開始,其為系統(tǒng)增加熱量的模擬。電流流入裸片的熱容及其熱阻。熱量從裸片流入引線框和封裝灌封材料。流經(jīng)引線框的熱量再流入封裝和散熱片之間的接觸面。熱量從散熱片流入熱環(huán)境中。遍及整個(gè)網(wǎng)絡(luò)的電壓代表高于環(huán)境的溫升。
![一種估算熱插拔MOSFET溫升的簡(jiǎn)單方法(電子工程專輯)](http://www.eet-china.com/STATIC/ARTICLE_IMAGES/201101/eetc_0113_nt_pic4.JPG)
圖2:將散熱電容加到DC電氣模擬。
熱阻和熱容的粗略估算顯示在整個(gè)網(wǎng)絡(luò)中。該模型可以進(jìn)行環(huán)境和DC模擬,可幫助根據(jù)制造廠商提供的SOA曲線圖進(jìn)行一些保守計(jì)算。姐下來(lái),我們將繼續(xù)討論熱插拔旁路組件,將對(duì)等效電路中的一些散熱時(shí)間恒量進(jìn)行討論。
上文中我們把熱源建模成了電流源。根據(jù)系統(tǒng)組件的物理屬性,計(jì)算得到熱阻和熱容。遍及整個(gè)網(wǎng)絡(luò)的各種電壓代表各個(gè)溫度。
接下來(lái),我們把圖3所示模型的瞬態(tài)響應(yīng)與圖5所示公開刊發(fā)的安全工作區(qū)域(SOA曲線)部分進(jìn)行了對(duì)比。
![一種估算熱插拔MOSFET溫升的簡(jiǎn)單方法(電子工程專輯)](http://www.eet-china.com/STATIC/ARTICLE_IMAGES/201101/eetc_0113_nt_pic5.JPG)
圖3:將散熱容加到DC電氣模擬電路上。
根據(jù)CSD17312Q5 MOSFET、引線框以及貼裝MOSFET的印制電路板(PWB)的物理屬性,估算得到圖1的各個(gè)值。在查看模型時(shí),可以確定幾個(gè)重要的點(diǎn)。PWB到環(huán)境電阻(105℃/W)為到環(huán)境的最低電阻通路,其設(shè)定了電路的允許DC損耗。將溫升限制在100℃,可將電路的允許DC損耗設(shè)定為1瓦。其次,存在一個(gè)10秒鐘的PWB相關(guān)時(shí)間恒量,所以其使電路板完全發(fā)熱的時(shí)間相當(dāng)長(zhǎng)。因此,電路可以承受更大的電脈沖。例如,在一次短促的脈沖期間,所有熱能對(duì)芯片熱容充電,同時(shí)在更小程度上引線框?qū)崛莩潆姟Mㄟ^假設(shè)所有能量都存儲(chǔ)于裸片電容中并求解方程式(dV=I×dt/C)得到I,我們可以估算出芯片電容器可以存儲(chǔ)多少能量。結(jié)果是,I=dV×C/dt=100℃×0.013F/1ms=1300W,其與圖5的SOA曲線圖相一致。
圖4顯示了圖3的仿真結(jié)果以及由此產(chǎn)生的電壓響應(yīng)。其功耗為80瓦,不同的時(shí)間恒量一眼便能看出。綠色曲線為裸片溫度,其迅速到達(dá)一個(gè)PWB相關(guān)恒定電壓(藍(lán)色曲線)。您還可以看到一個(gè)引線框的第二時(shí)間恒量(紅色曲線),其稍微有一些滯后。最后,您還可以看見PWB的近似線性充電,因?yàn)榇蠖鄶?shù)熱能(電流)都流入其散熱電容。
![一種估算熱插拔MOSFET溫升的簡(jiǎn)單方法(電子工程專輯)](http://www.eet-china.com/STATIC/ARTICLE_IMAGES/201101/eetc_0113_nt_pic6.JPG)
圖4:熱能流入PWB時(shí)明確顯示的三個(gè)時(shí)間恒量。
我們進(jìn)行了一系列的仿真,旨在驗(yàn)證模型的準(zhǔn)確性。圖5顯示了這些仿真的結(jié)果。紅色標(biāo)注表示每次仿真的結(jié)果。將一個(gè)固定電源(電流)放入電路中,相應(yīng)間隔以后對(duì)裸片電壓(溫升)進(jìn)行測(cè)量。模型始終匹配SOA曲線。這樣做的重要性是,您可以使用該模型的同時(shí)使用不同的散熱片和PWB參數(shù)。例如,該SOA數(shù)據(jù)是針對(duì)缺乏強(qiáng)散熱能力的最小尺寸PWB。我們可以增加電路板尺寸來(lái)降低其環(huán)境熱阻,或者增加銅使用量來(lái)提供更好的熱傳播—最終降低溫度。增加銅使用量也可以提高散熱能力。
![一種估算熱插拔MOSFET溫升的簡(jiǎn)單方法(電子工程專輯)](http://www.eet-china.com/STATIC/ARTICLE_IMAGES/201101/eetc_0113_nt_pic7.JPG)
圖5:散熱模型與指示點(diǎn)的MOSFET CSD17312 SOA曲線一致。
|