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傳導(dǎo)是EMI干擾的罪魁禍首
文章來源: 更新時間:2012/11/25 10:11:00
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輻射EMI干擾可以來自某個不定向發(fā)射源以及某個無意形成的天線。傳導(dǎo)性EMI干擾也可以來自某個輻射EMI干擾源,或者由一些電路板組件引起。一旦您的電路板接收到傳導(dǎo)性干擾,它便駐入應(yīng)用電路的PCB線跡。常見的一些輻射EMI干擾源包括以前文章中談及的組件,以及板上開關(guān)式電源、連接線和開關(guān)或者時鐘網(wǎng)絡(luò)。 

傳導(dǎo)是EMI干擾的罪魁禍首(電子工程專輯)
圖1:傳導(dǎo)性EMI信號的耦合介質(zhì)

傳導(dǎo)性EMI干擾是開關(guān)電路正常工作與寄生電容和電感共同作用產(chǎn)生的結(jié)果。圖1顯示了一些會進入到您的PCB線跡中的EMI干擾源情況。Vemi1源自開關(guān)網(wǎng)絡(luò),例如:時鐘信號或者數(shù)字信號線跡等。這些干擾源的耦合方式均為通過線跡之間的寄生電容。這些信號將電流尖脈沖帶入鄰近PCB線跡。同樣,Vemi2源自開關(guān)網(wǎng)絡(luò),或者來自PCB上的某個天線。這些干擾源的耦合方式均為通過線跡之間的寄生電感。該信號將電壓擾動帶入鄰近PCB線跡。每三個EMI源來自于線纜內(nèi)相鄰的導(dǎo)線。沿這些導(dǎo)線傳播的信號可產(chǎn)生串擾效應(yīng)。 

開關(guān)式電源產(chǎn)生Vemi4。開關(guān)式電源產(chǎn)生的干擾駐存在電源線跡上,并以Vemi4信號的形式出現(xiàn)。 

在正常運行期間,開關(guān)式電源(SMPS)電路為傳導(dǎo)性EMI的形成帶來機會。這些電源內(nèi)的“開”和“關(guān)”切換操作,會產(chǎn)生較強的非連續(xù)性電流。這些非連續(xù)性電流存在于降壓轉(zhuǎn)換器的輸入端、升壓轉(zhuǎn)換器的輸出端,以及反激和降升壓拓撲結(jié)構(gòu)的輸入和輸出端。開關(guān)動作引起的非連續(xù)性電流會產(chǎn)生電壓紋波,其通過PCB線跡傳播至系統(tǒng)的其它部分。SMPS引起的輸入和/或輸出電壓紋波,會危害負載電路的運行。圖2顯示了工作在2 MHz下的一個DC/DC降壓SMPS輸入的頻率組成例子。SMPS傳導(dǎo)干擾的基本頻率組成范圍為90~100 MHz。 

傳導(dǎo)是EMI干擾的罪魁禍首(電子工程專輯)
圖2:DC/DC降壓轉(zhuǎn)換器開關(guān)頻率=2MHz時輸入和輸出針腳使用10μF濾波器時的傳導(dǎo)性EMI測量。

共有兩類傳導(dǎo)性干擾:差模干擾和共模干擾。差模干擾信號出現(xiàn)在電路輸入端之間,例如:信號和接地等。電流流經(jīng)同相的兩個輸入端。但是,1號電流輸入大小與2號相等,但方向相反(差動參考)。這兩個輸入端的負載,形成一個隨電流強弱變化的電壓。線跡1和差分基準之間的這種電壓變化,在系統(tǒng)中形成干擾或者通信誤差。 

在您向電路添加一個接地環(huán)路或者不良電流通路時,便出現(xiàn)共模干擾。如果存在某個干擾源,則線跡1和線跡2上形成共模電流和共模電壓,而接地環(huán)路充當一個共模干擾源。差模干擾和共模干擾都要求使用特殊的濾波器,來應(yīng)對EMI干擾的不利影響。

 
 
 
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