應(yīng)用背景:
CS5095E芯片的BAT端口本身就可以抗住20V的高壓,具有較高的可靠性。當(dāng)電池端進(jìn)行熱插拔操作,特別是接電機(jī)等感性負(fù)載時(shí),BAT端口必須額外接一個(gè)至少100μF電容,空間允許的情況下,最好接470μF電容。
但在產(chǎn)品實(shí)際應(yīng)用時(shí),例如接某些電機(jī)工作時(shí),或者電池有個(gè)很大的放電然后突然沒(méi)了,或者電池有個(gè)很大的放電然后突然沒(méi)了,就會(huì)產(chǎn)生一個(gè)很大的反彈電壓,這個(gè)反彈電壓如果超出芯片端口的耐壓值,就會(huì)損壞芯片。因此根據(jù)產(chǎn)品工作時(shí)BAT端口的實(shí)際電壓尖峰,可以進(jìn)一步提高BAT端口的可靠性。
提高BAT端口的可靠性:
串聯(lián)一個(gè)PMOS管(AO3407),外加3個(gè)電阻以及一個(gè)NPN管控制柵極。
![](/uploadfile/20200903/20200903104305222.jpg)
注意PMOS管的源極,要接電池的正極。
除此之外,還有另一個(gè)優(yōu)點(diǎn):當(dāng)VIN不上電,電池幾乎沒(méi)有泄漏電流流入芯片。
![](/uploadfile/20200903/20200903104528819.jpg)
芯片VIN不上電,有負(fù)載儀的一個(gè)12V的輸出線,去碰PMOS管的源級(jí)。
沒(méi)加PMOS管,在芯片BAT端口出現(xiàn)一個(gè)很高的尖峰電壓。
加上PMOS管,在芯片BAT端口檢測(cè)不到電壓。
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