在面向高可靠性應(yīng)用開發(fā)MCU程序的過程中，工程師通常會遇到設(shè)定斷點(diǎn)的問題，斷點(diǎn)的合理使用對于更好地編程和MCU使用是一種挑戰(zhàn)。借助新的工具，這些斷點(diǎn)就可以發(fā)揮巨大的作用，成為開發(fā)工作中的利器。
斷點(diǎn)的概念非常簡單，因?yàn)樗淖饔檬窃谥付ㄖ噶钪爸袛喑绦虻膱?zhí)行。實(shí)現(xiàn)方式可以是硬件或軟件。然而，簡單并不意味著它不能被用于復(fù)雜的調(diào)試組合中，以達(dá)到用簡單的方式解決BUG的目的。事實(shí)上，軟件開發(fā)者在調(diào)試時離不開斷點(diǎn)，但如何最好地利用斷點(diǎn)呢？
要更好地使用各種斷點(diǎn)，開發(fā)人員不能僅靠經(jīng)驗(yàn)或者直覺，需要借助一些先進(jìn)的開發(fā)工具來完成，它們可以幫助開發(fā)人員去了解不同斷點(diǎn)的特點(diǎn)和價值。例如，在IAR
Embedded
Workbench工具中，開發(fā)人員可以使用以下斷點(diǎn)：
• 代碼斷點(diǎn)
• 條件代碼斷點(diǎn)
• 具有讀寫訪問的數(shù)據(jù)斷點(diǎn)
• 數(shù)據(jù)日志斷點(diǎn)
• 日志斷點(diǎn)
• 功率斷點(diǎn)
• Trace開始和停止斷點(diǎn)
本文將指導(dǎo)開發(fā)人員如何利用每一個可用的斷點(diǎn)來更快地調(diào)試程序。
代碼斷點(diǎn)
代碼斷點(diǎn)是最簡單的斷點(diǎn)。開發(fā)人員只需要選擇C代碼或者反匯編窗口中的ASM指令并設(shè)置斷點(diǎn)即可。一旦斷點(diǎn)被觸發(fā)，程序就會暫停。此時，開發(fā)人員就可以檢查變量、標(biāo)志和寄存器的值。換句話說，開發(fā)人員現(xiàn)在擁有了完全控制權(quán)限。
代碼斷點(diǎn)的數(shù)量受限于MCU硬件斷點(diǎn)的數(shù)量，但如果代碼在RUM中運(yùn)行，開發(fā)人員利用軟件斷點(diǎn)，軟件斷點(diǎn)的數(shù)量則可以是無限的。即使數(shù)量有限，例如對于Arm
Cortex-M，有6到8個斷點(diǎn)，但開發(fā)人員也可以保存斷點(diǎn)位置并在需要時禁用和啟用斷點(diǎn)。只需要選擇顯示View ->Breakpoints
window，就可以選中/清除方框，也就是啟用或禁用斷點(diǎn)。
在這種情況下，可以有6到8個以上的斷點(diǎn)，但不能同時都激活。
默認(rèn)情況下，IDE會設(shè)置代碼斷點(diǎn)。如果開發(fā)人員有一個I-jet仿真器，就可以在右鍵點(diǎn)擊代碼行時明確地選擇一個flash斷點(diǎn)。如果開發(fā)人員已經(jīng)用完了現(xiàn)有全部硬件斷點(diǎn)，這招會很有用。注意斷點(diǎn)符號中的“F”說明改斷點(diǎn)是Flash斷點(diǎn)。IAR
Embedded Workbench for Arm的7.60或更高版本中提供flash斷點(diǎn)功能。
條件代碼斷點(diǎn)
條件斷點(diǎn)是代碼斷點(diǎn)與一些標(biāo)志或變量（作為條件）的組合。設(shè)置好斷點(diǎn)后，開發(fā)人員可以再次使用View
->Breakpoints window來查看所有斷點(diǎn)，也可以通過右鍵點(diǎn)擊并選擇Edit option來設(shè)置額外參數(shù)。
使用的語法類似于C語言的語法，包括==、>=和<=。例如，如果想讓應(yīng)用在計(jì)數(shù)器等于10的時候停止在斷點(diǎn)，則可以使用“counter==10”。
當(dāng)需要在一個中斷例程內(nèi)設(shè)置斷點(diǎn)時，這非常有用。如果沒有條件，就不可能調(diào)試應(yīng)用，因?yàn)槌绦驅(qū)⒁恢蓖Ｖ�。使用�?biāo)志或變量作為條件可以簡化操作。此外，還可以進(jìn)一步使用跳過計(jì)數(shù)器和條件檢查，如true或changed。
具有讀寫訪問的數(shù)據(jù)斷點(diǎn)
相比其他斷點(diǎn)，數(shù)據(jù)斷點(diǎn)有些不同，因?yàn)樗鼈儽O(jiān)測對特定內(nèi)存地址、標(biāo)志、變量或寄存器的讀寫訪問。數(shù)據(jù)斷點(diǎn)使用非常直截了當(dāng)只需右鍵點(diǎn)擊標(biāo)志或變量，然后選擇選項(xiàng)Set
data Breakpoint即可。默認(rèn)情況下，讀和寫的訪問將被監(jiān)測。如果開發(fā)人員想增加額外的設(shè)置，可以通過View->Breakpoints
window和Edit
option來完成。除了訪問之外，還可以監(jiān)測數(shù)據(jù)是否匹配。這意味著只有當(dāng)數(shù)據(jù)匹配時，寫或讀的訪問才會觸發(fā)停止。選擇“Edit”按鈕，可以打開一個額外的窗口，可以選擇絕對地址甚至是源代碼行。如果是一個變量或標(biāo)志，建議使用自動大小。如果需要監(jiān)測更大的范圍，應(yīng)手動設(shè)置所需的大小。
數(shù)據(jù)斷點(diǎn)對于調(diào)試被應(yīng)用破壞的標(biāo)志和變量非常有用。一旦出現(xiàn)了讀寫訪問，應(yīng)用就會停止。另一種用法是堆棧溢出調(diào)查，只需要在堆棧大小的80-90%處設(shè)置一個數(shù)據(jù)斷點(diǎn)，當(dāng)溢出接近時，就可以停止應(yīng)用，并一步步找到問題的根源。
數(shù)據(jù)日志斷點(diǎn)
除了可監(jiān)測讀寫訪問的數(shù)據(jù)斷點(diǎn)外，開發(fā)人員還可以使用數(shù)據(jù)日志斷點(diǎn)。使用這些斷點(diǎn)的目的是監(jiān)測并以圖形方式繪制特定變量或內(nèi)存地址的值跟隨時間的變化，這就能更輕松地比較多個變量，觀察中斷觸發(fā)的情況。
仿真器選項(xiàng)提供了時間軸、附加數(shù)據(jù)日志和數(shù)據(jù)日志總結(jié)，如下圖所示。
日志斷點(diǎn)
除了代碼斷點(diǎn)和數(shù)據(jù)斷點(diǎn)之外，開發(fā)人員還可以使用日志斷點(diǎn)。這是一個特殊的斷點(diǎn)，因?yàn)樗粫䲡簳r停止應(yīng)用來打印一條信息。只有當(dāng)斷點(diǎn)被觸發(fā)時，它才會顯示選定的信息。
每當(dāng)斷點(diǎn)被觸發(fā)，一條信息就會顯示在調(diào)試日志窗口中。配合計(jì)數(shù)器，我們就可以知道應(yīng)用源代碼的特定部分運(yùn)行了多少次。
功率斷點(diǎn)
得益于IAR Embedded
Workbench的功率調(diào)試技術(shù)，開發(fā)人員可以監(jiān)控能耗并將其與源代碼聯(lián)系起來。這使得了解整個應(yīng)用的能耗成為可能。這個概念也使得添加功率斷點(diǎn)成為可能。可以設(shè)置一個閾值，比如25mA，一旦能耗超過這個值，調(diào)試器就會中斷。
設(shè)置閾值的操作非常簡單。只需要打開I-jet -> PowerLog window，然后設(shè)置數(shù)值和對應(yīng)的操作。
這個功能很有用，可以保證不出現(xiàn)任何耗電浪涌或高于指定值的情況，而且通過這種分析，電池的使用壽命也會延長，開發(fā)人員可以放心讓其應(yīng)用長時間運(yùn)行。雖然時間軸窗口不是必須的，但它能提供實(shí)時的能耗信息。
Trace開始和停止斷點(diǎn)
最后要介紹的是Trace開始和停止斷點(diǎn)。如果開發(fā)人員使用先進(jìn)的仿真器，比如I-jet
Trace for Arm Cortex-M或I-jet Trace for
Cortex-A/R/M，就可以利用這些斷點(diǎn)。這在分析應(yīng)用特定部分時特別有用。Trace開始和Trace停止斷點(diǎn)簡單易用，只需在代碼行中右鍵點(diǎn)擊并決定跟蹤的開始和結(jié)束位置即可。Trace緩沖區(qū)將只保存應(yīng)用中指定代碼行之間的指令。
另外，開發(fā)人員也可以從時間軸上的Trace指令中得到函數(shù)調(diào)用的圖形概覽，這些函數(shù)調(diào)用信息是在Trace開始和停止斷點(diǎn)之間捕獲的。
雖然I-jet
Trace仿真器比標(biāo)準(zhǔn)JTAG/SWD仿真器更強(qiáng)大，但有時如果記錄包含所有正常信息時，Trace調(diào)試變得很麻煩。為了避免收集數(shù)以百萬計(jì)的非必要指令，使Trace調(diào)試變得簡單明了，IAR
Embedded Workbench提供了Trace開始和停止斷點(diǎn)的功能。
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