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TWS耳機設計容易出現的問題分析
文章來源:永阜康科技 更新時間:2022/3/1 11:45:00
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設計過程中 比較容易出現的一些常規(guī)問題,今天匯總一下。
  1. 充電倉的TYPE-C USB的兩個 CC1,CC2腳不能短接在一起,要各自獨立接下拉電阻

如果CC1與CC2短接的話,用PD適配器就會出現充不了電的現像, 因為PD設備是要做檢測機制的.

 

2. 充電盒上的霍爾器件與磁鐵的間距設計最好控制在3MM以內,如果超過這個距離,需要做詳細的可靠性驗證,因為 磁鐵在高溫后會有退磁現像,如果兩者距離太遠,可能會出現霍爾感 應失靈的問.

3. 充電頂針底部要做PCB穿過孔的,這樣的設計可靠性更有保證.

4.耳機的MIC一定要求結構必須要有密封設計,特別是有ANC,ENC功能的項目.

5.耳機PCB上的充電頂針與焊盤建議按以下比例來設計:

因為頂針如果大于PCB焊盤的話,可靠性會過不了,做滾桶測試時,可能有脫落的風險.

6.耳機的喇叭與電池不能貼的太近,兩者非常容易相互干擾,特別是一些高靈敏度喇叭,更容易被干擾,比如能聽到有雜音現像. 所以要特別小心.

7.電池的線長要控制好,會對RF有些影響.

8.天線:RF信號的穩(wěn)定性是最為核心的硬性指標. 天線類型主要以陶瓷天線,FPC天線為主. 天線的性能的指標及天線放置的位置一定要在開模前驗證可行性.一旦結構模具定型了,就不好改了. PCBA的RF性能比較好驗證,最麻煩的就是PCBA與結構的配合,天線與結構的配合才是最花時間的.

 
 
 
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